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Aproximar uma ponta afiada de silício montada em um cantilever a uma superfície de amostra leva a uma interação em escala atômica. O resultado é uma curvatura do cantilever que é detectada por um laser. No modo estático, a deflexão resultante é usada para investigar a topografia da superfície da amostra linha por linha usando um loop de feedback. No modo dinâmico, o cantilever é oscilado em frequência fixa, resultando em uma amplitude amortecida perto da superfície. Os parâmetros de medição (ponto de ajuste, ganho de feedback) desempenham um papel crucial para a qualidade da imagem. Seu efeito na qualidade da imagem é investigado para diferentes amostras nanoestruturadas.
Benefícios
Tarefas
Objetivos de aprendizagem
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